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BASLER 巴斯勒
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用于測(cè)量高精度要求的光學(xué)零件,材料包括玻璃、塑料、金屬、陶瓷等,非接觸式測(cè)量可保證在不傷害光學(xué)表面的前提下對(duì)光學(xué)表面及波前進(jìn)行***的評(píng)價(jià)
Trioptics μPhase®系列高精度干涉儀 用于測(cè)量高精度要求的光學(xué)零件,材料包括玻璃、塑料、金屬、陶瓷等,非接觸式測(cè)量可保證在不傷害光學(xué)表面的前提下對(duì)光學(xué)表面及波前進(jìn)行***的評(píng)價(jià)。μPhase®系列干涉儀得益于該設(shè)備緊湊與模塊化的設(shè)計(jì)理念,使它們得到靈活、高效的使用。μPhase®系列干涉儀的各個(gè)組成部件相對(duì)獨(dú)立,相互兼容,可靈活組合成有針對(duì)性應(yīng)用的強(qiáng)大干涉計(jì)量系統(tǒng)。
產(chǎn)品特點(diǎn)
*模塊化設(shè)計(jì),結(jié)構(gòu)緊湊
*測(cè)量適用性強(qiáng),保證可以在各種工作與生產(chǎn)環(huán)境中進(jìn)行檢測(cè)
*可測(cè)量反射率0.3%-100%的光學(xué)表面,覆蓋范圍廣
*數(shù)字化測(cè)量,避免人為損壞
***的結(jié)構(gòu),**的軟件,為生產(chǎn)及實(shí)驗(yàn)室提供支持
*泰曼格林型/菲索型組合或用于校準(zhǔn)樣品的**個(gè)相機(jī),為μPhase®系列干涉儀的使用提供了便利
產(chǎn)品型號(hào)
● μPhase® 500
● μPhase® 1000
● μPhase® SPHERO UP
● μPhase® PLANO UP
● μPhase® Plano Down
● μPhase® Vertical
● μPhase® UNIVERSAL 100

典型應(yīng)用
μPhase® SPHERO UP, μPhase® PLANO UP,μPhase® Plano Down
*用于測(cè)量不同的平面和球面光學(xué)零件
*操作直觀而簡(jiǎn)單,適合非專(zhuān)業(yè)人士操作
*測(cè)量范圍:μPhase® Plano Down:平面φ≤2 mm 至 150 mm
μPhase® PLANO UP:平面φ≤2 mm 至 100 mm
μPhase® SPHERO UP:球面,曲率半徑(凸面)2mm—225mm,直徑*大55mm;球面,曲率半徑(凹面)-3mm—-570mm
*結(jié)構(gòu)緊湊,占用空間下,可靈活的與產(chǎn)線結(jié)合
μPhase® Vertical
*適用于廠房、車(chē)間、實(shí)驗(yàn)室的標(biāo)準(zhǔn)干涉儀檢測(cè)系統(tǒng)
*立式檢測(cè),結(jié)構(gòu)緊湊,占地面積小
*標(biāo)配一個(gè)沿Z軸方向電動(dòng)平移的平臺(tái),可選配**個(gè)平臺(tái)
*傾斜及X/Y平移精調(diào)
*可完成各種類(lèi)型的反射與透射檢測(cè)
*可采用透射法檢測(cè)雙膠合透鏡
*凹面與凸面球面鏡的檢測(cè)范圍:標(biāo)準(zhǔn)曲率半徑范圍:1mm-225mm,直徑*大55mm(采用50mm物鏡μLens PLANO 50)
*集成半徑測(cè)量單元
*可選CGH,用于測(cè)量非球面、柱面、輪胎面等
*曲率半徑實(shí)現(xiàn)一鍵式自動(dòng)測(cè)量
*Z軸方向設(shè)置導(dǎo)軌電機(jī),電動(dòng)升降
μPhase® UNIVERSAL 100
*用于測(cè)量平面和球面的4英寸干涉檢測(cè)系統(tǒng)
*球面測(cè)量范圍:凹面曲率半徑*大-3000mm(提供相應(yīng)導(dǎo)軌)
*平面測(cè)量范圍:*大98mm
*半徑測(cè)量系統(tǒng)集成導(dǎo)軌和光柵尺
*適合長(zhǎng)焦光學(xué)零件和系統(tǒng)的檢測(cè)
*與市場(chǎng)上通用的4英寸標(biāo)準(zhǔn)球面物鏡相兼容
*可選旋轉(zhuǎn)對(duì)稱(chēng)非球面的檢測(cè)配件,檢測(cè)范圍10mm-80mm,CGH檢測(cè)輪胎面、柱面等
座機(jī):0755-84670052 0755-83317701
手機(jī)/微信:13682357549 13246646513
QQ:672776553 564600083 1903656788
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