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產品詳情
簡單介紹:
詳情介紹:
高精度非接觸式光學測厚儀 LensThick非接觸式光學測厚儀
LensThick非接觸式光學測厚儀利用光的獨特性質測量厚度,其測量原理為:測量激光照射到被測試材料上,經過每個表面反射后被收集,然后在...
LensThick非接觸式光學測厚儀利用光的獨特性質測量厚度,其測量原理為:測量激光照射到被測試材料上,經過每個表面反射后被收集,然后在光學干涉儀上進行分析,光學干涉儀是一種高精度的“光學尺”,它測量每個反射信號的長度差,以確定每一層的厚度和總厚度。
產品特點
*非接觸式測量,不會造成元件表面損壞或變形
*用于高精度定位測量位置的可見光束
*可同時測量31層壁厚
*精度可達±0.1微米
*測量重復性達±0.02微米
*基于內部固有長度標準,實時顯示測量數據
*測量結果可追溯至NIST標準
*測量物理厚度可達12微米(折射率1.5時)
*集成裝置,操作簡便,更無需專用PC
座機:0755-84670052 0755-83317701
手機/微信:13682357549 13246646513
QQ:672776553 564600083 1903656788
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