產(chǎn)品介紹-生產(chǎn)用干涉儀

μPhase® 面型測試系統(tǒng)
用于測量表面和波前變形的干涉儀
 μPhase®干涉儀可以對由玻璃、塑料、金屬、陶瓷或類似材料制成的反射和透射組件的表面和波前變形進(jìn)行快速、高精度測量。客觀可靠的結(jié)果滿足高質(zhì)量管理要求。非接觸式測量過程有助于防止損壞樣品。
對平面、球面、圓柱、復(fù)曲面和非球面部件的整個表面和波前變形進(jìn)行高精度測量。
μPhase®可普遍用于反射率從0.2%到100%的所有表面，由玻璃、塑料、金屬和陶瓷等材料制成。
客觀的數(shù)字化測量可避免操作員的影響。同樣，堅固的防塵外殼確保了高可靠性。
 μPhase®干涉儀是非常緊湊、小巧、輕便的數(shù)字化設(shè)備，可以在很多工作環(huán)境中使用。在μShape軟件的支持下，可以進(jìn)行廣泛的測量分析。
 μPhase®傳感器是TRIOPTICS干涉測量的基礎(chǔ)。該傳感器是模塊化的，可以配置各種測量直徑，并代表特定的測量任務(wù)。此外，可以以低成本提供定制的解決方案。
μPhase® PLANO DOWN 結(jié)構(gòu)緊湊
μPhase® PLANO DOWN具有緊湊的設(shè)計，適用于在研發(fā)和生產(chǎn)中測量平面部件。
測量直徑范圍*大為150mm
將樣品放在花崗巖板上并從頂部開始測量
由于該裝置具有堅固的花崗巖底座，通常不需要隔振
設(shè)計緊湊，占地面積小
高度可調(diào)節(jié)的立柱易于操作
由于其直觀且易于操作，因此也可由未經(jīng)培訓(xùn)的人員使用

 μPhase® PLANO DOWN具有緊湊的設(shè)計，適用于在研發(fā)和生產(chǎn)中測量平面部件。
測量直徑范圍*大為150mm
將樣品放在花崗巖板上并從頂部開始測量
由于該裝置具有堅固的花崗巖底座，通常不需要隔振
設(shè)計緊湊，占地面積小
高度可調(diào)節(jié)的立柱易于操作
由于其直觀且易于操作，因此也可由未經(jīng)培訓(xùn)的人員使用
μPhase® PLANO UP 生產(chǎn)中的平面透鏡
對于生產(chǎn)光學(xué)平板的經(jīng)濟(jì)高效的質(zhì)量控制，μPhase® PLANO UP是很好的選擇。
測量直徑范圍*大為100mm
緊湊型設(shè)計，適合小空間，可放置在生產(chǎn)機(jī)器旁邊
樣品位于裝置頂部的環(huán)形卡盤或三點支撐上，并從下方測量
抗震
連續(xù)測量不需要中間重新校準(zhǔn)
由于其直觀且易于操作，因此也可由未經(jīng)培訓(xùn)的人員使用

 對于生產(chǎn)光學(xué)平板的經(jīng)濟(jì)高效的質(zhì)量控制，μPhase® PLANO UP是很好的選擇。
測量直徑范圍*大為100mm
緊湊型設(shè)計，適合小空間，可放置在生產(chǎn)機(jī)器旁邊
樣品位于裝置頂部的環(huán)形卡盤或三點支撐上，并從下方測量
抗震
連續(xù)測量不需要中間重新校準(zhǔn)
由于其直觀且易于操作，因此也可由未經(jīng)培訓(xùn)的人員使用
μPhase® SPHERO UP 生產(chǎn)中的球體
使用μPhase® SPHERO UP在生產(chǎn)中可以快速且經(jīng)濟(jì)地控制球面。
測量直徑范圍*大為50mm
緊湊型設(shè)計，適合小空間，可放置在生產(chǎn)機(jī)器旁邊
樣品位于裝置頂部的環(huán)形卡盤或三點支撐上，并從下方開始測量
抗震
連續(xù)測量中間不需要重新校準(zhǔn)
由于其直觀且易于操作，因此也可由未經(jīng)培訓(xùn)的人員使用

 使用μPhase® SPHERO UP在生產(chǎn)中可以快速且經(jīng)濟(jì)地控制球面。
測量直徑范圍*大為50mm
緊湊型設(shè)計，適合小空間，可放置在生產(chǎn)機(jī)器旁邊
樣品位于裝置頂部的環(huán)形卡盤或三點支撐上，并從下方開始測量
抗震
連續(xù)測量中間不需要重新校準(zhǔn)

由于其直觀且易于操作，因此也可由未經(jīng)培訓(xùn)的人員使用

 

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