HAMAMATSU   濱松   S11299- 321   硅光電二極管陣列

適用于 X 射線非破壞性檢測的背照式光電二極管陣列，細長板型

S11299-321 是一款背照式 16 像元光電二極管陣列，專為無損 X 射線檢查而設(shè)計。與前代產(chǎn)品（S5668 系列）相比，它具有更高的靈敏度均勻性和更小的光電二極管像元變化。背照式光電二極管陣列也易于處理，并且易于連接到閃爍體，而不必擔(dān)心導(dǎo)線損壞，因為入射光側(cè)沒有焊線和受光面。S11299 系列兼容雙能量成像，因為它可以與我們的 S11212 系列 [board size: 25.4(W) × 20.0 (H) mm] 結(jié)合使用，以配置上下兩層結(jié)構(gòu)，能夠同時檢測高能和低能 X 射線。

特點
-像元尺寸：1.175 (W) × 2.0 (H) mm/單像元
-像元間距：1.575 mm（× 16 像素）
-安裝基板尺寸：25.4 (W) × 10.2 (H) mm
-通過多個陣列實現(xiàn)狹長形狀
-支持雙能量成像（用于上下兩層組合時）

詳細參數(shù)

像元尺寸（每個像元）	1.175 × 2.0 mm
像元數(shù)	16
封裝	玻璃環(huán)氧樹脂
封裝類別	帶閃爍體
閃爍體類型	GOS 陶瓷
制冷	非冷卻型
暗電流（*大值）	30 pA
上升時間（典型值）	6.5 μs
結(jié)電容（典型值）	40 pF
測量條件	Ta = 25°C，每個像元

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